рассеяние рентгеновских лучей кристаллами (или молекулами жидкостей и газов), при котором из начального пучка лучей возникают вторичные отклонённые пучки той же длины волны, появившиеся в результате взаимодействия первичных рентгеновских лучей с электронами вещества; направление и интенсивность вторичных пучков зависят от строения рассеивающего объекта. Дифрагированные пучки составляют часть всего рассеянного веществом рентгеновского излучения. Наряду с рассеянием без изменения длины волны наблюдается рассеяние с изменением длины волны - так называемое комптоновское рассеяние (см. Комптона эффект). Явление Д. р. л., доказывающее их волновую природу, впервые было экспериментально обнаружено на кристаллах немецкими физиками М. Лауэ, В. Фридрихом и П. Книппингом в 1912.

Кристалл является естественной трёхмерной дифракционной решёткой (См. Дифракционная решётка) для рентгеновских лучей, т.к. расстояние между рассеивающими центрами (атомами) в кристалле одного порядка с длиной волны рентгеновских лучей (Дифракция рентгеновских лучей1Å=10^-8 см). Д. р. л. на кристаллах можно рассматривать как избирательное отражение рентгеновских лучей от систем атомных плоскостей кристаллической решётки (см. Брэгга - Вульфа условие). Направление дифракционных максимумов удовлетворяет одновременно трём условиям:

a (cos α - cos α₀) = Нλ,

b (cos β - cos β₀) = Kλ,

с (cos γ - cos γ₀) = Lλ.

Здесь а, b, с - периоды кристаллической решётки (См. Кристаллическая решётка) по трём её осям; α₀, β₀, γ₀ - углы, образуемые падающим, а α, β, γ - рассеянным лучами с осями кристалла; λ - длина волны рентгеновских лучей, Н, К, L - целые числа. Эти уравнения называются уравнениями Лауэ. Дифракционную картину получают либо от неподвижного кристалла с помощью рентгеновского излучения со сплошным спектром (так называемая Лауэграмма; рис. 1), либо от вращающегося или колеблющегося кристалла (углы α₀, β₀ меняются, а γ₀ остаётся постоянным), освещаемого монохроматическим рентгеновским излучением (λ - постоянно), либо от поликристалла, освещаемого монохроматическим излучением. В последнем случае, благодаря тому что отдельные кристаллы в образце ориентированы произвольно, меняются углы α₀, β₀, γ₀.

Интенсивность дифрагированного луча зависит в первую очередь от так называемого структурного фактора, который определяется атомными факторами (См. Атомный фактор) атомов кристалла, их расположением внутри элементарной ячейки кристалла, а также характером тепловых колебаний атомов. Структурный фактор зависит от симметрии расположения атомов в элементарной ячейке. Интенсивность дифрагированного луча зависит также от размеров и формы объекта, от совершенства кристалла и прочего.

Д. р. л. от поликристаллических тел приводит к возникновению резко выраженных конусов вторичных лучей. Осью конуса является первичный луч, а угол раствора конуса равен 4ϑ (ϑ - угол между отражающей плоскостью и падающим лучом). Каждый конус соответствует определённому семейству кристаллических плоскостей. В создании конуса участвуют все кристаллики, семейство плоскостей которых расположено под углом ϑ к падающему лучу. Если кристаллики малы и их приходится очень большое количество на единицу объёма, то конус лучей будет сплошным. В случае текстуры, т. е. наличия предпочтительной ориентировки кристалликов, дифракционная картина (Рентгенограмма) будет состоять из неравномерно зачернённых колец (см. также Дебая - Шеррера метод).

Метод Д. р. л. на кристаллах дал возможность определять длину волны рентгеновских лучей, если известна структура кристаллической решётки, благодаря чему возникла Рентгеновская спектроскопия, сыгравшая важную роль при установлении строения атома. Наблюдения Д. р. л. известной длины волны на кристалле неизвестной структуры позволяют установить характер этой структуры (расположение ионов, атомов и молекул, составляющих кристалл), что послужило основой рентгеновского структурного анализа (См. Рентгеновский структурный анализ).

Д. р. л. наблюдается также при рассеянии их аморфными твёрдыми телами, жидкостями и газами. В этом случае на кривой зависимости интенсивности от угла рассеяния вокруг центрального пятна появляются широкие кольца типа гало (рис. 2). Положение этих колец (угол ϑ) определяется средним расстоянием между молекулами или расстояниями между атомами в молекуле. Из зависимости интенсивности от угла рассеяния можно определить распределение плотности вещества.

Д. р. л. можно наблюдать также на обычной оптической дифракционной решётке при скользящем падении (меньше угла полного отражения) рентгеновских лучей на решётку. С помощью этого метода можно непосредственно и с большой точностью измерять длины волн рентгеновских лучей.

Лит.: Ландсберг Г. С., Оптика, 4 изд., М., 1957 (Общий курс физики, т. 3); Боровский И. Б., Физические основы рентгеноспектральных исследований, М., 1956.

В. И. Иверонова.

Рис. 1. Лауэграмма берилла.

Рис. 2. Рентгенограмма воды.

условие, определяющее положение интерференционных максимумов рентгеновских лучей, рассеянных кристаллом без изменения длины волны. Б.- В. у. установлено в 1913 независимо друг от друга английским учёным У. Л. Брэггом и русским учёным Г. В. Вульфом вскоре после открытия немецким учёным М. Лауэ и его сотрудниками дифракции рентгеновских лучей (См. Дифракция рентгеновских лучей). Согласно теории Брэгга - Вульфа, максимумы возникают при отражении рентгеновских лучей от системы параллельных кристаллографических плоскостей, когда лучи, отражённые разными плоскостями этой системы, имеют разность хода, равную целому числу длин волн. Б. - В. у. можно записать в следующем виде:

2dsinϑ = mλ,

где d - межплоскостное расстояние, ϑ - угол скольжения, т. е. угол между отражающей плоскостью и падающим лучом, λ - длина волны рентгеновского излучения и m - так называемый, порядок отражения, т. е. положительное целое число (см. рис.).

Б. - В. у. выполняется при рассеянии кристаллами не только рентгеновских лучей, но также γ-лучей, при дифракции электронов, протонов и нейтронов.

Лит: см. при статье Рентгеновские лучи.

Рис. к ст. Брэгга - Вульфа условие.

Условия приёма в Коммунистический Интернационал, резолюция 2-го конгресса Коминтерна от 6 августа 1920, определявшая условия, на которых партии могли входить в Коминтерн. Проект условий был написан В. И. Лениным. Необходимость принятия условий объяснялась тем, что к Коминтерну стремились примкнуть промежуточные, центристские партии и группы, которые не отрешились от оппортунистической идеологии и тактики, а также тем, что некоторые партии, уже входившие в Коминтерн, ещё не очистили свои ряды от реформистских элементов. Коминтерну угрожала " ...опасность разжижения его шаткими и половинчатыми группами..." (Ленин В. И., Полн. собр. соч., 5 изд., т. 41, с. 205). Д. о. у. исходило из исторического опыта большевистской партии. Условия требовали, чтобы каждая партия, входившая или желавшая вступить в Коминтерн, вела повседневную коммунистическую агитацию и пропаганду, направленные на завоевание диктатуры пролетариата, планомерно и систематически удаляла с ответственных постов в рабочем движении реформистов и центристов, заменяя их надёжными коммунистами; умела сочетать легальные и нелегальные методы работы; настойчиво и систематически проводила агитацию и пропаганду в войсках и в деревне; разъясняла массам, что без революционного низвержения капитализма нельзя избавиться от опасности империалистических войн. Условия предусматривали полный разрыв коммунистических партий с реформизмом и центризмом и пропаганду требования этого разрыва в самых широких кругах членов партии, поддержку национально-освободительного движения в колониях, а также поддержку каждой советской республики в её борьбе против контрреволюции; проведение систематической и планомерной работы внутри профсоюзов, кооперативов и др. массовых рабочих организаций. Условия призывали коммунистов вести борьбу против реформистского Амстердамского интернационала профсоюзов (См. Амстердамский интернационал профсоюзов) и поддерживать зарождавшееся международное объединение красных профсоюзов; удалить из состава парламентских фракций ненадёжные элементы, подчинить эти фракции, а также партийные органы печати и издательства ЦК партии. Условия требовали построения партий на принципах демократического централизма, установления в партиях железной дисциплины, систематического очищения партий от мелкобуржуазных элементов, принятия партиями новых коммунистических Коминтерна программ и выполнения всех постановлений Коминтерна, переименования партий в коммунистические, перепечатки центральными печатными органами партий всех важных документов Исполкома Коминтерна. Условия обязывали все партии созвать в кратчайший срок чрезвычайные съезды для обсуждения Д. о. у. Для вступления в Коминтерн необходимо было, чтобы во все важнейшие учреждения партии входило не менее ²/з таких коммунистов, которые ещё до 2-го конгресса Коминтерна публично высказались за вступление в Коммунистический Интернационал. Члены коммунистической партии, отвергавшие условия и тактику Коминтерна, подлежали исключению из партии, Д. о. у. было направлено на идейное и организационное укрепление тогда ещё молодого коммунистического движения под знаменем марксизма-ленинизма. Часть пунктов этого документа была обусловлена особенностями революционной борьбы в те годы. Другая же часть воплощала принципы, сохраняющие своё значение на протяжении целой исторической эпохи. На 2-м конгрессе колеблющиеся, центристские элементы из ряда делегаций выступили против Д. о. у. Большинство делегатов конгресса одобрило этот ленинский документ. Впоследствии Д. о. у. обсуждалось на съездах партий, входивших в Коминтерн. Коммунисты всего мира одобрили условия, ставившие барьер проникновению оппортунистов и центристов в Коммунистический Интернационал.

Источн.: Второй конгресс Коминтерна, июль - август 1920 г. Протоколы конгрессов Коммунистического Интернационала, М., 1934; Ленин В.И., Условия приема в Коммунистический Интернационал, Полн. собр. соч., 5 изд., т. 41; его же , Двадцатый пункт условий приема в Коммунистический Интернационал, там же; его же, речь об условиях приёма в Коммунистический Интернационал 30 июля. (II Конгресс Коммунистического Интернационала 19 июля - 7авг. 1920г.), там же .

В. В. Александров.